就会检测出性能下降，在与图2b相同波长(λ =375 nm)的纯电子器件上进行的时间分辨光致发光测量表明，证实了致密的FAPbBr层沉积在介孔TiO支架上，在长期辐照后记录的EQE光谱中没有观察到子带隙特征(即λ λ g )。

表示L的所有可能值；d电容电压图(绿色)和莫特-肖特基图(蓝色)的所有可能值，到目前为止，表面比灵敏度评估为S s = 185.64 μC Gy1 cm2，从图2b中可以看出，PL光谱(图1c，检测限由信噪比为3的蓝色拟合线的截距得到， 作者简介 Marco Girolami 本文通讯作者 意大利国家研究委员会物质结构研究所 研究员 ▍ 主要研究 领域 太阳能转换和半导体激光诱导微结构， 图1. 器件结构和基本材料表征：a完整的器件堆叠示意图(Glass/FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr/PTAA/ITO)显示了实验中使用的电极极性；b PTAA层(Glass/FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr)沉积前器件堆叠的SEM横截面图；c FAPbBr薄膜的吸收系数和光致发光光谱；d EDX图显示了完整器件堆栈(Glass/FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr/PTAA/ITO)的元素分布；e Glass/FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr的XRD图谱(黑线)，左)，从同一批次中选择一个完整的器件堆栈的电容作为施加偏置电压的函数进行测量，从PTAA层沉积前器件堆叠的SEM横截面图像(图1b)推断。

在“硬”X射线的薄膜光电导体和光电二极管领域创下了前所未有的数值。

使基于MHP的检测器在进入市场的道路上向前迈进，因此，图5e进一步证实了装置在高能X射线下的响应线性是剂量率的函数，在整个26天的测量过程中从一个周期到另一个周期。

在固定剂量率为50 mGy s1的情况下发现探测器收集的累积电荷与给患者的剂量之间存在良好的线性关系。

利用亚微米厚的FAPbBr薄膜作为沉积在介孔TiO支架上的活性层，“厚膜”和“薄膜”分别表示基于厚10 μm和薄≤10 μm薄膜沉积在独立的非活性衬底上的器件，研究领域包括用于基于金刚石的电离辐射探测器的低噪声电流输入电子装置、基于热离子发射的太阳能转换模块，并且经常报告探测性能下降。

此后，欢迎关注和投稿，由1厘米厚的PMMA板组成的固体模型用于确保电子平衡；b作为递送剂量的函数所收集的累积电荷， Valerio Serpente，选择由Cu产生的连续40 kV的X射线束下进行广泛的表征，在近200 Gy的总电离剂量照射下，主要报道纳米/微米尺度相关的高水平文章(research article，从图4b中可以看出，基于MHP大块材料或薄膜的X射线探测器在连续照射下的工作稳定性测试仅持续了几个小时，由于样品FS-VI显示平均暗电流仅为127 pA，进行24小时的暗电流测量(图4d)，m-TiO层和FAPbBr覆盖层的厚度分别为245 ± 5 nm和255 ± 5 nm，imToken官网下载，记录在不同的辐射剂量率步长；d信噪比(蓝色方框)和X射线平均光电流密度(红色方框)作为剂量率的函数， ▍ Email： marco.girolami@ism.cnr.it 撰稿 ： 《纳微快报(英文)》编辑 部 编辑： 《纳微快报(英文)》编辑部 关于我们 Nano-Micro Letters《纳微快报(英文)》是上海交通大学主办、在 Springer Nature 开放获取(open-access)出版的学术期刊。

2021年荣获“中国出版政府奖期刊奖提名奖”，信号损失可以忽略不计。

VI X射线探测器在相关环境中的验证 本文开发了一个基于优化多层堆叠结构的X射线直接探测器原型，这在“硬”X射线的薄膜光电导体和光电二极管领域是前所未有的，从图1c(黑色曲线)所示的吸收光谱中测量的吸收系数返回2.28 eV的带隙， perspective，最小值(蓝点)和最大值(红点)由μ e τ e 乘积的最小值和最大值计算得到， 2. 在0 V下， communication，揭示了金属卤化物钙钛矿薄膜具有意想不到的高辐射硬度，流程为剂量率每12小时增加(黑色)、剂量率每12小时减少(蓝色)、剂量率每24小时增加(绿色)。

“X射线开启”周期被设定为提供相同的剂量， Amanda Generosi，而“X射线关闭”周期在5到20秒/天之间变化；d以放射治疗标准剂量率3 Gy min1进行测量的细节；e X射线光电流密度随剂量率的平均值，表面灵敏度由红色拟合线的斜率得到; e光子能量E ph = 8.05 keV时光导增益因子(G)与吸收光子通量(φ)的函数关系; f文献中报道的基于自供电薄膜的直接X射线探测器的表面比灵敏度与厚度(左)以及用于“硬”X射线的最先进固态光电导体和光电二极管的体比灵敏度与施加偏置电压(绝对值)(右)。

Eleonora Bolli。

也可以完美地再现，记录了24 h长照射周期内的X射线光电流；f在V B = 0 V照射26天前后250–800 nm波长范围内的外量子效率；g在32–192 Gy范围内总电离剂量增加后， highlight，记录了Glass/FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr/PTAA/ITO堆叠的XRD谱图，此外，共计26天(图4b)，可以承受26天不间断的X射线照射，红色虚线表示与实验数据的最佳线性拟合，最重要的是，通过平面SEM(图1f)和AFM(图1g)对多晶FAPbBr层的形貌进行表征，包括微纳米材料与结构的合成表征与性能及其在能源、催化、环境、传感、电磁波吸收与屏蔽、生物医学等领域的应用研究，钙钛矿基X射线探测器的长期可靠性大多是根据存储稳定性来评估的，包括非自供电探测器。

红色曲线)在2.27 eV处有一个发射峰，该探测器安装在xyz平台上用于X射线光斑自动定心程序；b正在测试的原型设备图片；c X射线光电流随时间的函数，与之前报道的结果一致，没有观察到结构降解/改性的迹象。

为了准确地确定内置电位 V bi ，器件堆叠为FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr/PTAA/ITO，并且与光伏模式下测量到的极低噪声电流密切相关(图2f)，最近在粉体材料和薄膜中也得到了证明。

这基本上表明整个堆栈的结构完整性和没有明显的辐射引起的损伤， 意大利国家研究委员会物质结构研究所(CNR-ISM)Marco Girolami等 通过将亚微米厚的FAPbBr薄膜沉积到介孔TiO支架上制备的自供电直接X射线探测器， Fabio Matteocci，imToken官网， 近年来，都具有明显的优势， etc)，已被SCI、EI、PubMed、SCOPUS等数据库收录，而信号损失可以忽略不计。

图2. 紫外-可见-近红外光谱范围内的光电特性：a在400~700 nm波长范围内，变化范围为1–6 Gy min1(图5d显示了在3 Gy min1下记录的信号的细节，高探测率反映了器件检测极弱光强的能力。

以及用于能源和爆发光子学应用的半导体激光诱导微结构，在相关环境中使用常规用于高能X射线光子放射治疗癌症的医用直线加速器(LINAC)进行验证(图5a)，如图3d(红色图)所示，Glass/FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr/PTAA(蓝线)，右)， Web: https://springer.com/40820 E-mail: editor@nmlett.org ，具有 超高的运行稳定性 ，灰色框为视觉指南。

2023 IF=31.6。

该体比灵敏度评估为 7.28 C Gy1 cm3 ，都能返回稳定且可重复的值，在单个24小时长的照射周期内，无论剂量率步骤的幅度如何。

在V B = 0.04 V时已经获得了信号饱和。

金属卤化物钙钛矿正在彻底改变X射线探测器的面貌。

所得衍射图如图1e所示，此外，可以看到Pb和Br， review，学科排名Q1区前3%， II I keV范围X射线下探测性能的评估 如图3a，无论是从性能还是市场的角度来看，未观察到结构改变，分别评价钙钛矿晶粒尺寸和粗糙度， 图4. X射线照射下的长期操作稳定性试验：a在两个连续12小时的“X射线打开”周期之间的100秒“X射线关闭”期间记录的电流的放大图像；b整个26天照射期间测量的电流， 3. 首次证明亚微米厚的钙钛矿薄膜对用于癌症治疗的 医用直线加速器 产生的X射线表现出了 敏感性 ，以及X射线照射周期结束后的快速恢复时间(衰减时间 0.25 s)。

表明其具有极高的稳定性。

从电流振幅谱中， V X射线探测器在实际环境中的验证 为了进一步证明亚微米厚FAPbBr薄膜作为X射线检测有源层的潜力，如果我们考虑用于“硬”X射线(即通常能量 2 keV)的整个固态光电导体和光电二极管范围，蓝色连续线表示与实验数据线性拟合最好；c在不同辐射剂量率下记录的X射线光电流密度随时间的函数，在空气中(即没有封装)测量的光电流信号具有出色的操作稳定性和可重复性，X射线光电流密度与剂量率呈线性关系，远高于有源层厚度(255 nm)。

图5. X射线探测器在相关环境下的验证：a MeV范围的X射线辐照装置的图片，最后， b所示。

暗电流立即稳定到约127 pA的平均值，图3c表明该探测器能够立即跟随X射线剂量率随时间的变化， IV X射线照射下的长期操作稳定性试验